LSI检查显微镜 ECLIPSE L300ND
用于检查大型样品的高级显微镜
用于检查大型样品的高级显微镜
采用尼康CFI60-2光学系统设计，成像清晰；可搭配数码相机。
尼康ECLIPSE L300N(D)和L200N(D)
用于硅片（L200N系列为200mm，L300N系列为300mm）、分划板和其它大型平板类电子零部件的光学检查。
尼康CFI60-2光学系列
尼康的创新设计，支持实现清晰的、高对比度的明场、暗场、荧光、偏光（POL）、微分干涉（DIC）镜检，以及双光束干涉测量。
尼康Digital Sight数码相机
尼康全系列Digital Sight数码相机都能高效地进行拍照，并可将当前在用物镜、倍率转换设置和照明光亮度等参数一起传送到NIS-Elements显微镜图像处理软件中。
L200N与NWL200联合使用
在半导体行业中得到广泛认可和信任，目前有许多装置在使用。
产品亮点
尼康CFI60-2光学系统
尼康的创新设计光学系统成像清晰，支持多种显微镜镜检。
反射照明下可选择的镜检方式有：明场、暗场、偏光（POL）、微分干涉（DIC）、荧光和双光束干涉；
多种镜检方式
透射照明下可选择的镜检方式有：明场、暗场、偏光（POL）、微分干涉（DIC）和相差。
数字化智能通信
显微镜通过USB与尼康NIS Elements软件相连，可检查并控制物镜转换、照明亮度、光阑动作等。
人体工学设计
使用倾角可调的目镜筒，可使操作者更为舒适地观察样品，消除疲劳。
主要用于观察原材料、半导体和工业零部件。
